数字集成电路系统基本构成与测试技术研究

来源：测试技术学报 【在线投稿】栏目：期刊导读时间：2021-03-06

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摘要：本文主要讨论了数字集成电路系统的基本构成,并对数字集成电路系统的测试技术进行了研究,从功能测试、直流参数测试、交流参数测试等层面进行探讨,最终向大家阐述数字集成电路测

本文主要讨论了数字集成电路系统的基本构成,并对数字集成电路系统的测试技术进行了研究,从功能测试、直流参数测试、交流参数测试等层面进行探讨,最终向大家阐述数字集成电路测试技术的应用,希望能够为大家带来一些参考。